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DXL-C1018

DXL-C1018

  • 所属分类:智能型检测仪
  • 浏览次数:
  • 二维码:
  • 发布时间:2023-08-24 17:20:52
  • 产品概述

设备信息

用于晶片端面四方向晶片原子面角度测量;及对晶片柱面notch反向晶片原子面角度测量,双工作台的独立操作,具有自动寻峰,自动计算差值,历史报警查询与标准晶向角度保存等功能。  设备精度为±30”,小读数1”


适用晶体

硅、蓝宝石、压电晶体碳化硅砷化镓磷化铟等III-V族化合物     


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